CRISTALOGRAFÍA BÁSICA Y TÉCNICAS BASADAS EN RAYOS X
(DIFRACCIÓN, DISPERSIÓN Y ABSORCIÓN)
OBJETIVO:
Que el estudiante adquiera conocimientos básicos sobre cristalografía y difracción de rayos X de monocristales y polvo. Introducir al estudiante en la problemática de la resolución y refinamiento de estructuras cristalinas y en el análisis de sustancias policristalinas despertando su particular interés por esta área de la ciencia.
TEMARIO:
1) Simetría de Cristales
2) Física de los rayos-X, generación
3) Dispersión de rayos-X por átomos, moléculas y sólidos
4) Métodos de colección, resolución y análisis de estructuras cristalinas
5) Prácticas de reducción de datos, resolución y refinamiento de estructuras de moléculas pequeñas por difracción de cristal único
6) Uso de base de datos de estructuras (ICSD, CSD)
7) Fundamentos de Absorción de rayos X y sus aplicaciones
8) Fundamentos de difracción de polvo y aspectos experimentales
9) Indexación de patrones de difracción por polvos cristalinos
10) Identificación de compuestos y empleo de bases de datos de polvos cristalinos
11) El método de Rietveld de refinamiento estructural
12) Análisis microestructural (tamaño de cristalita y microdeformaciones)